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BIT高溫老化試驗(yàn)箱

?腔內(nèi)循環(huán)確保老化板上運(yùn)行中的顆粒表面積溫度與腔體溫度<±5℃  (芯片溫度以芯片本身傳感器采集溫度 為參考)

4.1.8  升溫時(shí)間:  常溫~125℃  ≤20min;

4.1.9  水冷式恒溫、降溫,  恒溫大功率 BI 產(chǎn)品,  降溫迅速,  20 分鐘內(nèi) 125 度降至 60 度。

(需要接入廠務(wù)水)  

4.1.10  水流量每小時(shí):  1.3t/h

 

BIT高溫老化試驗(yàn)箱

  • 詳情說明

?SSD專用高低溫試驗(yàn)箱,SSD測(cè)試箱,SSD試驗(yàn)機(jī),SSD高溫檢測(cè)箱,SSD恒溫恒濕箱

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