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電工電子產品環境試驗設備檢驗方法濕熱試驗設備

1范圍

GB/T 5170的本部分規定了濕熱試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。

本部分適用于對GB/T 2423.3《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗》、GB/T 2423.4《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗Db：交變濕熱試驗方法》和GB/T 2423.16

《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J：長霉》所用試驗設備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。

本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。

2規范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件， 其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB/T 2423.3 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cab：恒定濕熱試驗（GB/T 2423.3

－2006， IEC 60068－2－78：2001，IDT）

GB/T 2423.4 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Db：交變濕熱試驗方法（GB/T 2423.4－2008， IEC 60068－2－30：2005，IDT）

GB /T 2423.16 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J：長霉（GB/T 2423.16－1999， idt IEC 60068－2－10：1988）

GB/T 2424.6 電工電子產品環境試驗 溫度/濕度試驗箱性能確認（GB/T 2424.6－2006， IEC 60068－3－6：2001，IDT）

GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則GB/T 6999 環境試驗用相對濕度查算表

GB/T 16839.1 熱電偶 第1部分：分度表（GB/T 16839.1－1997，idt IEC 60584－1：1995） IEC 60751 工業鉑電阻敏感元件

3術語和定義

本部分采用GB/T 5170.1-2008規定的術語和定義。

4檢驗項目

本部分的檢驗項目如下：

——溫度偏差；

——相對濕度偏差；

——溫度波動度；

——相對濕度波動度；

——溫度均勻度；

——相對濕度均勻度；

——每 5min 溫度平均變化速率；

——風速；

——升降溫特性；

——溫度指示誤差；

——相對濕度指示誤差；

——溫度過沖量；

——相對濕度過沖量；

——溫度過沖恢復時間；

——相對濕度過沖恢復時間；

——噪聲。

5檢驗用主要儀器及要求

5.1溫度測量儀器

采用由鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測量系統，其測量結果的擴展不確定度（k=2） 不大于被檢溫度允許偏差的1/3。

鉑電阻傳感器應符合IEC 60751的等級A，熱電偶傳感器應符合GB/T 16839.1。

傳感器在空氣中的50％響應時間應在10s～40s之間，溫度測量系統的響應時間應小于40s。

5.2濕度測量儀器

采用干濕球溫度計或由其他濕度傳感器組成的濕度測量系統，其測量結果的擴展不確定度（k=2） 不大于被測濕度允許偏差的1/3。

5.3風速測量儀器

采用各種風速儀，其感應量不大于0.05m/s。

5.4噪聲測量儀器

帶A計權網絡的聲級計，其測量結果的擴展不確定度（k=2）不大于1dB。

6檢驗負載

按GB/T 5170.1-2008第7章的規定（或按有關標準的規定）。

7檢驗條件

7.1受檢試驗設備在檢驗時的氣候條件、電源條件、用水條件和其他條件應符合 GB/T 5170.1-2008 第 4 章的規定。

7.2受檢試驗設備的外觀和安全要求應符合 GB/T 5170.1-2008 第 8 章的規定。

8檢驗方法

8.1溫度偏差、相對濕度偏差、溫度波動度、相對濕度波動度、溫度均勻度、相對濕度均勻度、溫度指示誤差、相對濕度指示誤差、每 5min 溫度平均變化速率、風速的檢驗方法

8.1.1測量點數量及位置

8.1.1.1根據試驗設備容積的大小，將工作空間分為上、中、下三層，中層通過工作空間幾何中心點。將一定數量的溫度、相對濕度傳感器布放在其中規定的位置上，傳感器不應受冷熱源的直接輻射。

8.1.1.2測量點分別位于上、中、下三層。

8.1.1.3溫度測量點用 O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U 表示。

8.1.1.4相對濕度測量點用 Oh、Dh、Hh、Lh 表示。

8.1.1.5風速測量點數量及布放位置與溫度測量點完全相同。