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電工電子產品環境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

Inspection methods for environmental testing equipments for electric and electronic products--

Temperature testing equipments

2008-06-16 發布 2009-03-01 實施

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局 發布

中 國 國 家 標 準 化 管 理 委 員 會

目 次

前言 II

1范圍 1

2規范性引用文件 1

3術語和定義 1

4檢驗項目 1

5檢驗用主要儀器及要求 2

6檢驗負載 2

7檢驗條件 2

8檢驗方法 2

9數據處理結果與檢驗結果 7

10檢驗周期 8

附錄 A （規范性附錄） 檢驗項目的選擇 9

前 言

GB/T 5170包含以下部分：

——GB/T 5170.1－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則

——GB/T 5170.2－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備

——GB/T 5170.5－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備

——GB/T 5170.8－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 鹽霧試驗設備

——GB/T 5170.9－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備

——GB/T 5170.10－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備

——GB/T 5170.11－2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備

——GB/T 5170.13－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用機械振動臺

——GB/T 5170.14－1985 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用電動振動臺

——GB/T 5170.15－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動(正弦)試驗用液壓振動臺

——GB/T 5170.16－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 穩態加速度試驗用離心機

——GB/T 5170.17－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備

——GB/T 5170.18－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/濕度組合循環試驗設備

——GB/T 5170.19－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/振動(正弦)綜合試驗設備

——GB/T 5170.20－2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 水試驗設備本部分是GB/T 5170的第2部分。

本部分代替GB/T 5170.2－1996。與GB/T 5170.2－1996相比技術內容主要有如下變化：

——標準名稱“電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備”更改為“電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備”；

——所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；

——增加了“術語和定義”一章；

——增加了“溫度波動度”檢驗項目；

——增加了“溫度均勻度” 檢驗項目；

——增加了“每 5min 溫度平均變化速率” 檢驗項目；

——增加了“溫度指示誤差” 檢驗項目；

——增加了“溫度過沖量” 檢驗項目；

——增加了“溫度過沖恢復時間” 檢驗項目；

——增加了“噪聲” 檢驗項目；

——刪除了“相對濕度” 檢驗項目；

——在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統其測量結果的擴展不確定度（k=2）

的要求；

——增加了“檢驗負載”一章；

——修改了“溫度變化速率”的計算方法；

——測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據；

——刪除了“檢定過程中的處理”部分；

——附錄 A“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；

——刪除了附錄 B “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。附錄A為規范性附錄。

本部分由全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會(SAC/TC 8)提出并歸口。本部分起草單位：信息產業部電子第五研究所。

本部分主要起草人：伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。本部分所代替標準的歷次版本發布情況：

——GB/T 5170.2-1985；GB/T 5170.3-1985；GB/T 5170.4-1985；

——GB/T 5170.2-1996。

電工電子產品環境試驗設備檢驗方法溫度試驗設備

1范圍

GB/T 5170的本部分規定了溫度(含低溫、高溫和溫度變化)試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。

本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》所用試驗設備的首次檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。

本部分也適用于類似試驗設備的檢驗。

2規范性引用文件

下列文件中的條款通過GB/T 5170的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件， 其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵根據本部分達成協議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB/T 2423.1 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫（GB/T 2423.1－2001， idt IEC 60068－2－1：1990）

GB/T 2423.2 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫（GB/T 2423.2－2001， idt IEC 60068－2－2：1974）

GB/T 2423.22 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法  試驗N：溫度變化（GB/T 2423.22－ 2002， IEC 60068－2－14：1984，IDT）

GB/T 2424.5 電工電子產品環境試驗 溫度試驗箱性能確認（GB/T 2424.5－2006， IEC 60068－3

－5：2001，IDT）

GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則

GB/T 16839.1 熱電偶 第1部分：分度表（GB/T 16839.1－1997， idt IEC 60584－1：1995） IEC 60751 工業鉑電阻敏感元件

3術語和定義

本部分采用GB/T 5170.1-2008規定的術語和定義。

4檢驗項目

本部分的檢驗項目如下：

——溫度偏差；

——溫度波動度；

——溫度均勻度；

——風速；

——溫度變化速率；

——每 5min 溫度平均變化速率；

——溫度恢復時間；

——溫度指示誤差；

——溫度過沖量；

——溫度過沖恢復時間；

——噪聲。

5檢驗用主要儀器及要求

5.1溫度測量儀器

采用由鉑電阻、熱電偶傳感器及二次儀表組成的溫度測量系統，其測量結果的擴展不確定度（k=2） 不大于被檢溫度允許偏差的1/3。

鉑電阻傳感器應符合IEC 60751的等級A，熱電偶傳感器應符合GB/T 16839.1。

傳感器在空氣中的50％響應時間應在10s～40s之間，溫度測量系統的響應時間應小于40s。當測量溫度變化速率時，溫度測量系統的響應時間應小于5s。

5.2風速測量儀器

采用各種風速儀，其感應量不大于0.05m/s。

5.3噪聲測量儀器

帶A計權網絡的聲級計，其測量結果的擴展不確定度（k=2）不大于1dB。

6檢驗負載

按GB/T 5170.1-2008第7章的規定（或按有關標準的規定）。

7檢驗條件

7.1受檢試驗設備在檢驗時的氣候條件、電源條件、用水條件和其他條件應符合 GB/T 5170.1-2008 第 4 章的規定。

7.2受檢試驗設備的外觀和安全要求應符合 GB/T 5170.1-2008 第 8 章的規定。

8檢驗方法

8.1測量點數量及位置

8.1.1溫度偏差、溫度波動度、溫度均勻度、溫度指示誤差、風速的測量點數量及位置

8.1.1.1根據試驗設備容積的大小，將工作空間分為上、中、下三層，中層通過工作空間幾何中心點。將一定數量的溫度傳感器布放在其中規定的位置上，傳感器不應受冷熱源的直接輻射。

8.1.1.2測量點分別位于上、中、下三層。

8.1.1.3溫度測量點用英文字母 O、A、B、C、D、E、F、G、H、J、K、L、M、N、U 表示。

8.1.1.4測量點 O 為設備工作空間的幾何中心點，其它各測量點的位置與設備內壁的距離為工作室各自邊長的 1/10(遇有風道時，是指與送風口和回風口的距離)，但最大距離不大于 500mm，最小距離不小于 50mm。如果設備帶有樣品架或樣品車時，下層測量點可布放在樣品架或樣品車上方 10mm 處。

8.1.1.5風速測量點與溫度測量點的數量與布放位置完全相同。

8.1.1.6試驗設備容積小于或等于 2m3 時，溫度測量點為 9 個，布放位置如圖 1 所示。

8.1.1.7試驗設備容積大于 2m3 時，溫度測量點為 15 個，布放位置如圖 2 所示。

8.1.1.8當試驗設備容積小于 0.05m3 或大于 50m3 時，可適當減少或增加測量點。

8.1.1.9根據試驗和檢驗的需要，可在試驗設備工作空間增加對疑點的測量。本站數據只是網上收集數據僅供參考