密芽超碰在线,国拍亚洲精品视频,亚洲情人久久,美国成人网一区二区三区

歡迎進(jìn)入一品儀器設(shè)備有限公司網(wǎng)站!
一品儀器 - 產(chǎn)品展示
yipin instrument-Products
4新聞中心
您的位置:首頁(yè)  ->  新聞中心

GB/T2423.22-2012


本頁(yè)面標(biāo)準(zhǔn)信息均來(lái)源于網(wǎng)絡(luò)收集,或由參與標(biāo)準(zhǔn)制定的供應(yīng)商提供,只作為參考使用,為確保測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性、節(jié)省您的時(shí)間,如需GB/T2423.22-2012標(biāo)準(zhǔn)詳細(xì)信息或GB/T2423.22-2012具體測(cè)試方法,歡迎致電與我們技術(shù)人員聯(lián)系或給我們留言,我們將為您相關(guān)的技術(shù)支持。

GB/T2423.22-2012是關(guān)于《環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化 》。GB/T2423的本部分規(guī)定的試驗(yàn)用來(lái)確定元器件、設(shè)備或其他產(chǎn)品耐受環(huán)境溫度快速變化的能力。實(shí)現(xiàn)這一目的所需的各溫度下的暴露持續(xù)時(shí)間取決于試驗(yàn)樣品的特性。

GB/T2423.22-2012是GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的第22部分,GB/T2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見(jiàn)資料性附錄NA。

本部分按照GB/T1.1—2009給出的規(guī)則起草。

本部分代替GB/T2423.22—2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度

變化》和GB/T2424.13—2002《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則》。

本部分以GB/T2423.22—2002為主,整合了GB/T2424.13—2002的部分內(nèi)容,與GB/T2423.22—2002和GB/T2424.13—2002相比,主要技術(shù)變化和編輯性修改如下:

———試驗(yàn)Na和試驗(yàn)Nb中,刪除了對(duì)試驗(yàn)箱的優(yōu)良濕度、箱壁溫度和空氣流速的有關(guān)要求(見(jiàn)7.2.1、8.2.1);

———試驗(yàn)Na中,增加了允許采用一臺(tái)快速溫度變化速率的試驗(yàn)箱進(jìn)行試驗(yàn)的規(guī)定(見(jiàn)7.2.1);

———試驗(yàn)Na和試驗(yàn)Nb的嚴(yán)酷等級(jí),增加了“暴露持續(xù)時(shí)間”這一參數(shù)(見(jiàn)7.2.3、8.2.3);

———試驗(yàn)Na中,刪除了“轉(zhuǎn)換時(shí)間應(yīng)為:(2~3)min、(20~30)s、<10s”的規(guī)定,代之以“轉(zhuǎn)換時(shí)間t2不宜超過(guò)3min”(見(jiàn)7.2.5);

———試驗(yàn)Nb中,增加了溫度變化速率的兩個(gè)優(yōu)選值:(10±2)K/min和(15±3)K/min(見(jiàn)8.2.3);

———試驗(yàn)Nc中,刪除了兩組標(biāo)準(zhǔn)化的持續(xù)時(shí)間參數(shù);

———溫度偏差的單位用“K”取代“℃”;

———?jiǎng)h除了GB/T2424.13—2002的3.4.2和第4章的內(nèi)容;

———更新了GB/T2424.13—2002的3.3的內(nèi)容;

———更新了所有的示圖;

———將試驗(yàn)Na、試驗(yàn)Nb、試驗(yàn)Nc中共同的內(nèi)容“初始和最后檢測(cè)”編為單獨(dú)的第6章;

———增加了第10章“試驗(yàn)報(bào)告中應(yīng)給出的信息”;

———描述試驗(yàn)Na、試驗(yàn)Nb、試驗(yàn)Nc的各章結(jié)構(gòu)上作了調(diào)整(見(jiàn)第7章、第8章、第9章)。

本部分使用翻譯法等同采用IEC60068-2-14:2009《環(huán)境試驗(yàn) 第2-14部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化》。

與本部分中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下:

GB/T2423.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(GB/T2423.1—2008,IEC60068-2-1:2007,IDT)

GB/T2423.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(GB/T2423.2—2008,IEC60068-2-2:2007,IDT)

[返回]   
上一篇:GB/T2423.22-2002
下一篇:GB/T2423.3-2006
Copyright ? 2017 東莞市一品儀器設(shè)備有限公司 版權(quán)所有 本站素材及相關(guān)資源均來(lái)源互聯(lián)網(wǎng),如有侵權(quán)請(qǐng)速告知,我們將會(huì)在24小時(shí)內(nèi)刪除*【Gmap】 訪問(wèn)量:后臺(tái)管理 粵ICP備16117078號(hào)
服務(wù)熱線
0769-84393814
產(chǎn)品符合ISO、ASTM、DIN、EN、GB、BS、JIS、ANSI、UL、等國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
專(zhuān)注試驗(yàn)設(shè)備多年
關(guān)閉
點(diǎn)擊這里給我發(fā)消息
在線咨詢(xún)
點(diǎn)擊這里給我發(fā)消息
技術(shù)咨詢(xún)